GB/T 11297.6-1989 现行

锑化铟单晶位错蚀坑的腐蚀显示及测量方法

标准摘要

国家标准《锑化铟单晶位错蚀坑的腐蚀显示及测量方法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。
英文名称Standard method for showing andmeasuring dislocation etch pits in indium antimonide single crystal

替代关系

PDF下载提示

暂时无法下载

登录或查看会员