标准摘要 国家标准《锑化铟单晶位错蚀坑的腐蚀显示及测量方法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 展开完整摘要 英文名称Standard method for showing andmeasuring dislocation etch pits in indium antimonide single crystal