标准摘要 国家标准《硅外延层晶体完整性检查方法 腐蚀法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 展开完整摘要 英文名称Test method for crystallographic perfection of epit-axial layers in silicon by etching techniques