GB/T 14142-1993 废止

硅外延层晶体完整性检查方法 腐蚀法

标准摘要

国家标准《硅外延层晶体完整性检查方法 腐蚀法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。
英文名称Test method for crystallographic perfection of epit-axial layers in silicon by etching techniques

替代关系

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