GB/T 14146-2021 现行

硅外延层载流子浓度的测试 电容-电压法

标准摘要

国家标准《硅外延层载流子浓度的测试 电容-电压法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准委。
英文名称Test method for carrier concentration of silicon epitaxial layers—Capacitance-voltage method

替代关系

PDF下载提示

暂时无法下载

登录或查看会员