GB/T 14849.5-2014 现行

工业硅化学分析方法 第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法

标准摘要

国家标准《工业硅化学分析方法 第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法》 由TC243(全国有色金属标准化技术委员会)归口,TC243SC1(全国有色金属标准化技术委员会轻金属分会)执行 ,主管部门为中国有色金属工业协会。
英文名称Methods for chemical analysis of silicon metal―Part 5:Determination of impurity contents―X-ray fluorescence method

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