标准摘要 国家标准《用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法》 由339-1（工业和信息化部（电子））归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。 展开完整摘要 英文名称Standard test method for net carrier density in silicon epitaxial layers by voltage-capacitance of gated and ungated diodes