GB/T 1551-1995 废止

硅、锗单晶电阻率测定 直流两探针法

标准摘要

国家标准《硅、锗单晶电阻率测定 直流两探针法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。
英文名称Test method for resistivity of silicon and germanium bars using a two-point probe

替代关系

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