标准摘要 国家标准《硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 展开完整摘要 英文名称Test method for measuring resistivity of monocrystal silicon and germanium with a collinear four-probe array