GB/T 1552-1995 废止

硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法

标准摘要

国家标准《硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。
英文名称Test method for measuring resistivity of monocrystal silicon and germanium with a collinear four-probe array

替代关系

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