标准摘要 国家标准《硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 展开完整摘要 英文名称Test method for crystallographic perfection of silicon by preferential etch techniques