GB/T 1554-1995 废止

硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法

标准摘要

国家标准《硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。
英文名称Test method for crystallographic perfection of silicon by preferential etch techniques

替代关系

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