GB/T 15651.3-2003 现行

半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法

标准摘要

国家标准《半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法》 由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。
英文名称Discrete semiconductor devices and integrated circuits--Part 5-3:Optoelectronic devices--Measuring methods

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