GB/T 17169-1997 废止

硅抛光片和外延片表面质量光反射测试方法

标准摘要

国家标准《硅抛光片和外延片表面质量光反射测试方法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。
英文名称Test method for the surface quality of polished silicon wafers and epitaxial wafers by optical-reflection

替代关系

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