标准摘要 国家标准《硅抛光片和外延片表面质量光反射测试方法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 展开完整摘要 英文名称Test method for the surface quality of polished silicon wafers and epitaxial wafers by optical-reflection