GB/T 17444-2013 现行

红外焦平面阵列参数测试方法

标准摘要

国家标准《红外焦平面阵列参数测试方法》 由339-1(工业和信息化部(电子))归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。
英文名称Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays

替代关系

PDF下载提示

暂时无法下载

登录或查看会员