半导体晶片表面金属沾污的测定 全反射X射线荧光光谱法

国家标准《半导体晶片表面金属沾污的测定 全反射X射线荧光光谱法》 由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行 ，主管部门为国家标准委。