标准摘要 国家标准《原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法》 由TC279(全国纳米技术标准化技术委员会)归口 ,主管部门为中国科学院。 展开完整摘要 英文名称Test method for the surface roughness by atomic force microscope for sputtered thin films