GB/T 32188-2015 现行

氮化镓单晶衬底片x射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法

标准摘要

国家标准《氮化镓单晶衬底片x射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准委。
英文名称The method for full width at half maximum of double crystal X-ray rocking curve of GaN single crystal substrate

替代关系

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