标准摘要 国家标准《表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法》 由TC608(全国表面化学分析标准化技术委员会)归口 ,主管部门为中国科学院。 展开完整摘要 英文名称Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Method for depth profiling of arsenic in silicon