GB/T 32651-2016 现行

采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法

标准摘要

国家标准《采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。
英文名称Test method for measuring trace elements in photovoltaic-grade silicon by high-mass resolution glow discharge mass spectrometry

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