GB/T 33236-2016 现行

多晶硅 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法

标准摘要

国家标准《多晶硅 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法》 由TC608(全国表面化学分析标准化技术委员会)归口 ,主管部门为中国科学院。
英文名称Polycrystalline silicon—Determination of trace elements—Glow discharge mass spectrometry method

替代关系

PDF下载提示

暂时无法下载

登录或查看会员