表面化学分析 原子力显微术 二硫化钼片层材料厚度测量方法

国家标准《表面化学分析 原子力显微术 二硫化钼片层材料厚度测量方法》 由TC608（全国表面化学分析标准化技术委员会）归口 ，主管部门为中国科学院。