标准摘要
国家标准《光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法》 由TC103(全国光学和光子学标准化技术委员会)归口,TC103SC5(全国光学和光子学标准化技术委员会光学材料和元件分会)执行 ,主管部门为中国兵器工业集团公司。
英文名称Methodology for the quantitative inspection of the defect on optics surface—Microscopic scattering dark-field imaging