GB/T 41805-2022 现行

光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法

标准摘要

国家标准《光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法》 由TC103(全国光学和光子学标准化技术委员会)归口,TC103SC5(全国光学和光子学标准化技术委员会光学材料和元件分会)执行 ,主管部门为中国兵器工业集团公司。
英文名称Methodology for the quantitative inspection of the defect on optics surface—Microscopic scattering dark-field imaging

替代关系

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