半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法

国家标准《半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法》 由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行 ，主管部门为国家标准委。