GB/T 42789-2023 现行

硅片表面光泽度的测试方法

标准摘要

国家标准《硅片表面光泽度的测试方法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准委。
英文名称Test method for gloss of silicon wafer

替代关系

PDF下载提示

暂时无法下载

登录或查看会员