标准摘要
国家标准《微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法》 由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口 ，主管部门为国家标准委。
英文名称Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials