GB/T 43227-2023 现行

宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法

标准摘要

国家标准《宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法》 由TC425(全国宇航技术及其应用标准化技术委员会)归口,TC425SC2(全国宇航技术及其应用标准化技术委员会宇航电子分会)执行 ,主管部门为国家标准委。
英文名称Test methods for space vapour deposition protective film on semiconductor wire

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