GB/T 43610-2023 现行

微束分析 分析电子显微术 线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法

标准摘要

国家标准《微束分析 分析电子显微术 线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法》 由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。
英文名称Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method of determination for apparent growth direction of wirelike crystals by transmission electron microscopy

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