GB/T 44075-2024 现行

纳米技术 表面增强拉曼固相基片均匀性测量 拉曼成像分析法

标准摘要

国家标准《纳米技术 表面增强拉曼固相基片均匀性测量 拉曼成像分析法》 由TC279(全国纳米技术标准化技术委员会)归口 ,主管部门为中国科学院。
英文名称Nanotechnology—Determination of the uniformity of SERS solid substrate—Raman mapping analysis

替代关系

PDF下载提示

暂时无法下载

登录或查看会员