GB/T 44558-2024 现行

III族氮化物半导体材料中位错成像的测试 透射电子显微镜法

标准摘要

国家标准《III族氮化物半导体材料中位错成像的测试 透射电子显微镜法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准委。
英文名称Test method for dislocation imaging in III-nitride semiconductor materials—Transmission electron microscopy

替代关系

PDF下载提示

暂时无法下载

登录或查看会员