半导体器件 栅介质层的时间相关介电击穿（TDDB）试验

国家标准《半导体器件 栅介质层的时间相关介电击穿（TDDB）试验》 由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。