GB/T 46567.1-2025 现行

智能计算 忆阻器测试方法 第1部分:基础特性

标准摘要

国家标准《智能计算 忆阻器测试方法 第1部分:基础特性》 由SWG32(全国智能计算标准化工作组)归口 ,主管部门为国家标准委。
英文名称Intelligent computing—Test method for memristor—Part 1:Basic characteristics

替代关系

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