GB/T 47906-2026 即将实施

300mm硅片表面纳米形貌的评价方法

标准摘要

国家标准《300mm硅片表面纳米形貌的评价方法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准委。
英文名称Practice methods for nanotopography of 300 mm silicon wafer surface

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