GB/T 4937.11-2018 现行

半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分:快速温度变化 双液槽法

标准摘要

国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分:快速温度变化 双液槽法》 由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。
英文名称Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 11: Rapid change of temperature—Two-fluid-bath method

替代关系

PDF下载提示

暂时无法下载

登录或查看会员