GB/T 4937.19-2018 现行

半导体器件 机械和气候试验方法 第19部分:芯片剪切强度

标准摘要

国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第19部分:芯片剪切强度》 由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。
英文名称Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 19: Die shear strength

替代关系

PDF下载提示

暂时无法下载

登录或查看会员