GB/T 5594.2-1985 现行

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法

标准摘要

国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法》 由339-1(工业和信息化部(电子))归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。
英文名称Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for Youngs elastic modulus and Poisson ratio

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