电子元件和电子设备的基本环境测试程序 第2部分：测试 测试 J：霉菌生长（3.0 版）

[中文适用范围]： 目的 通过 28 天的短时间暴露来评估霉菌生长的程度 01，以通过 84 天的较长时间暴露来评估霉菌生长对样本功能的影响。注：C 组件通常会暴露 28 天，而更长的测试通常会使用设备。