IEC 60147-0F:1982 现行

补充 F 半导体器件的基本额定值和特性以及测量方法的一般原则 第0部分:一般和术语

标准摘要

英文名称Supplement F - Essential ratings and characteristics et semiconductor devices and general principles of measuring methods - Part 0: General and terminology

替代关系

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