补充 A 半导体器件的基本额定值和特性以及测量方法的一般原理 第2部分：测量方法的一般原理

[中文适用范围]： 广泛，适用于涉及半导体器件研发、生产及检测的各个环节，体现了技术标准化在推动行业规范化发展中的核心作用。 ***此介绍可能不准确，请注意参考原文。