IEC 60147-2J:1978 现行

补充 J 半导体器件的基本额定值和特性以及测量方法的一般原理 第2部分:测量方法的一般原理 第 7 章:模拟集成电路

标准摘要

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英文名称Supplement J - Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods - Part 2: General principles of measuring methods - Chapter 7: Analogue integrated circuits

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