IEC 60147-2L:1979 现行

补充L 半导体器件的基本额定值和特性以及测量方法的一般原理 第2部分:测量方法的一般原理 第 6 章:数字集成电路

标准摘要

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英文名称Supplement L - Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods - Part 2: General principles of measuring methods - Chapter 6: Digital integrated circuits

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