标准摘要
[中文适用范围]： 给出了适用于半导体器件和外部腔体的一般要求和注意事项。所描述的测量方法涉及反射器电流、功率、脉冲、频率和频谱宽度。调谐、迟滞、加热器调制效果 [外文原描述]： Gives general requirements and precautions which apply when making measurements on low-power oscillator klystrons.
英文名称Measurement of the electrical properties of microwave tubes. Part 5: Low-power oscillator klystrons