标准摘要
[中文适用范围]： IEC 60444的本部分定义了在C标称值下测量负载谐振频率f的标准方法，以及对于品质因数M>4的晶体在标称频率下确定有效负载电容C的标准方法。M，根据IEC 60122-1-2002 的表 1 用以下等式表示： 这在高达 200 MHz 的频率范围内给出了良好的结果。该方法允许计算负载谐振频率偏移 Δf、频率牵引范围 Δf 和牵引灵敏度 S，如 IEC 60122-1-2002 的 2.2.31 中所述。与 IEC 60444-4 的简单方法相反，这种测量技术避免了使用物理负载电容器，并且具有更高的精度、更好的再现性和与应用的相关性。它将频率上限从 IEC 60444-4 方法的 30MHz 扩展到大约 200MHz。该方法基于 IEC 60444-5-1995 的误差校正测量技术，因此可以在一个序列中测量 fLand C 并确定等效晶体参数，而无需更改测试夹具。通过这种方法，可以搜索频率 f，其中晶体的电抗 XC 具有与负载电容的电抗相反的值。此外，该方法允许确定标称频率 f 下的有效负载电容 C。 [外文原描述]： IEC 60444-11:2010 defines the standard method of measuring load resonance frequency fL at the nominal value of CL, and the determination of the effective load capacitance CLeff at the nominal frequency for crystals with the figure of merit M > 4.
英文名称Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 11: Standard method for the determination of the load resonance frequency fL and the effective load capacitance CLeff using automatic network analyzer techniques and error correction