标准摘要
[中文适用范围]： IEC 444的本部分适用于石英晶体单元驱动电平相关性（DLD）的测量。描述了两种测试方法。方法 A 基于 IEC 444-1 的 π 网络方法，可用于 IEC 444 本部分涵盖的完整频率范围。方法 B 是一种振荡器方法，适用于测量基模晶体单元具有固定条件的较大数量。 [外文原描述]： Applies to the measurements of drive level dependence (DLD) of quartz crystal units. Two test methods are described.
英文名称Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)