标准摘要
[中文适用范围]： GB/T 22319 的本部分规定了能精确测量无引线表面贴装石英晶体元件的谐振频率、谐振电阻及等效电路参数的测量夹具， 测量方法采用IEC 60444-4：1988和IEC 60444-5：1995规定的零相位技术。 使用该测量夹具的等效电路和适用的频率范围见随后条款。 此外， 本部分也适用于IEC 61240:1994中的无引线晶体元件外壳。测量了夹具的等效电路和电参数都基于IEC 60444-1:1986和IEC 60444-4:1988。 负载电容范围为10pF 或更高。 本部分还规定了测量系统和C<(DOWN)L>片的校准。 本部分适用于能准确测量石英晶体元件的谐振频率、谐振电阻、并电容C<(DOWN)o>、动态电容C<(DOWN)1>和动态电感L<(DOWN)1>的测量夹具， 其频率范围为1MHz～150MHz， 采用基于IEC 60444-5:1995的自动网络分析仪。 [外文原描述]： Explains the test fixture that allows the accurate measurement of resonance frequency, resonance resistance, and equivalent electrical circuit parameters of a leadless surface mounted quartz crystal units over the frequency range from 1 MHz to 150 MHz using zero phase technique as specified in IEC 60444-4 and IEC 60444-5.
英文名称Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units