石英晶体元件参数测量.第9节:压电晶体元件寄生振荡测量

[中文适用范围]： IEC 60444 的这一部分描述了两种确定压电晶体谐振器杂散（不需要的）模式的方法。与以前的方法相比，它扩展了功能并提高了再现性和准确性。 IEC 60283 (1968) 中描述的先前方法基于测量电桥的使用，该方法适用于不可追踪的组件，例如可变电阻器和混合变压器，这些组件不再在商业上可用。方法 A（全参数确定） 全参数确定允许确定寄生谐振的等效参数，并且基于 IEC 60444-5 中描述的方法，使用相同的测量设备。它是首选方法，可应用于高达几 kQ 的低阻抗和中阻抗寄生谐振的测量。方法 B（电阻测定） 电阻测定应用于确定指定的高阻抗寄生谐振，例如对于某些滤波器晶体。它使用与方法 A 相同的测试设备以及测试夹具，该测试夹具由商用微波组件组成，例如 180° 混合耦合器和 10 dB 衰减器，这些组件在 50 Q 环境中得到良好定义。该方法是对已过时的 IEC 60283 的“参考方法”的改进。 [外文原描述]： IEC 60444-9:2007 describes two methods for determining the spurious (unwanted) modes of piezoelectric crystal resonators. It extends the capabilities and improves the reproducibility and accuracy compared to previous methods.