标准摘要
[中文适用范围]： IEC电子元器件质量评定体系遵循lEC章程并在1EC授权下工作。该体系的日的是确定质量评 定程序，以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件无需进一步试验而为其他所有参 加国同样接受。 本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一，并应与下列国家标准一起使用。 GB／T 4589．1—2006 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范(1EC 60747—10： 1991，1DT) GB／T 12560—1999 半导体器件 分立器件分规范(idt IEC 60747—11：1996) 要求的资料 本页及下页方括号内的数字与下列各项要求的资料相对应，这些资料应填入相应栏中。 详细规范的识别 [1] 授权发布详细规范的国家标准化机构名称。 [2]详细规范的IECQ编号。 [3] 总规范和分规范的编号及版本号。 [4] 详细规范的国家编号、发布日期及国家标准体系要求的任何资料。 器件的识别 [5]器件的类型。 [6] 典型结构和应用资料。如果一种器件有几种应用，则应在详细规范中说明。这些应用的特 性、极限值和检验要求均应予以满足。如果器件是静电敏感型或含有危险材料，如氧化铍，应 在详细规范中给出注意事项。 [7] 外形图和(或)引用有关的外形标准。 [8]质量评定类别。 [9] 能在器件型号之间比较的最重要特性的参考数据。 [在本规范中，方括号里给出的文字是用于指导详细规范的编写者，不应纳入详细规范中。] [在本规范中，“×”表示应在详细规范中规定特性或额定值的值。]
英文名称Semiconductor devices - Discrete devices - Part 4-1: Microwave diodes and transistors - Microwave field effect transistors - Blank detail specification