IEC 60747-5-18:2026 现行

半导体器件 - 第5-18部分:光电子器件 - 发光二极管 - 微发光二极管外延片宏观光致发光测试方法

标准摘要

英文名称Semiconductor devices - Part 5-18: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the macro photoluminescence for epitaxial wafers of micro light emitting diodes

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