标准摘要
[中文适用范围]： 这是 IEC 60749-11-2002 的技术勘误 1（半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第 11 部分：温度快速变化 - 双液浴法）
英文名称Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method