IEC 60749-12:2002/COR1:2003 现行

半导体器件.机械和气候试验方法.第12部分:振动、可变频率

标准摘要

[中文适用范围]：这是 IEC 60749-12-2002 的技术勘误 1（半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第 12 部分：振动、变频）

英文名称Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency

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