IEC 60749:1996/AMD1:2000 现行

修改件1 半导体器件 机械和气候测试方法

标准摘要

[中文适用范围]: 包括各类半导体器件在制造、装配及后续应用过程中可能遇到的机械载荷与环境因素考验,为质量控制提供了明确的操作指南。作为国际标准体系的重要组成部分,该文件在推动半导体技术标准化进程方面发挥了基础作用,促进了全球范围内相关测试方法的协调统一。
英文名称Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods

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