标准摘要
[中文适用范围]： IEC 60749 的这一部分建立了一个标准程序，用于根据半导体器件因暴露于定义的人体模型 (HBM) 静电放电 (ESD) 而损坏或退化的敏感性来测试和分类半导体器件。目标是提供可靠、可重复的 HBM ESD 测试结果，以便进行准确的分类。该测试方法适用于所有半导体器件，并被归类为破坏性测试。半导体器件的 ESD 测试选自本测试方法、机器模型 (MM) 测试方法（参见 IEC 60749-27）或 IEC 60749 系列中的其他 ESD 测试方法。 HBM 和 MM 测试方法产生相似但不相同的结果；除非另有说明，均选用本测试方法。注：本测试方法中的某些条款符合 IEC 61340-3-1。 [外文原描述]： Establishes a standard procedure for testing and classifying semiconductor devices according to their susceptibility to damage or degradation by exposure to a defined human body model (HBM) electrostatic discharge (ESD). The objective is to provide reliable, repeatable HBM ESD test results so that accurate classifications can be performed. This test method is applicable to all semiconductor devices and is classified as destructive.
英文名称Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)