标准摘要
[中文适用范围]： 这是 IEC 60749-3-2002 的技术勘误表 1（半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第 3 部分：外部目视检查） [外文原描述]： Modification of the validity date: now put at 2007.
英文名称Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination