标准摘要
[中文适用范围]： 这是 IEC 60749-31-2002 的技术勘误表 1（Dispositifs a semiconducteurs -Methodes d'essais mecaniques et climatiques -Partie31:Inflammabilite des dispositifs a encapsulation plastique（cas d'une Cause interne d'Inflammation）） [外文原描述]： Modification of the validity date: now put at 2007.
英文名称Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)